Главная » 2009»Февраль»27 » 2-я школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур"
2-я школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур"
16:23
Уважаемые коллеги! Государственная корпорация <Российская корпорация нанотехнологий>, Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии и Научный совет РАН по электронной микроскопии в период 28- 30 мая 2008 г. в г.Черноголовке проведут 2-ую школу <Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур>. Целью школы является повышение квалификации специалистов центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий, в том числе участников системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии <НАНОСЕРТИФИКА>, в области проведения и метрологического обеспечения испытаний продукции наноиндустрии. Основное внимание будет уделено измерениям пространственных характеристик наноматериалов и наноструктур. Тематика школы: · Использование различных методов электронной микроскопии для получения и анализа изображений образцов наноразмерных и наноструктурных объектов. · Использование зондовой микроскопии для исследования наноструктурных объектов и материалов с нанометровым разрешением в различных режимах. · Методики оптической интерференционной микроскопии. · Методы рентгеновской дифракции для определения структурных характеристик различных фаз нанокристаллических материалов. · Определение морфологии наноразмерных объектов с использованием методик малоуглового рентгеновского рассеяния, в том числе синхротронного излучения. · Адсорбционные и корреляционные методы исследования нанопорошков и катализаторов. · Примеры исследований наноматериалов разных типов Регистрация Для участия в школе в качестве слушателя необходимо представить заявку до 1.04.09 с подписью руководителя и печатью организации по вышеприведенной форме (см. прикрепленный файл), направив ее в виде оригинального файла формата Word и сканированной цветной копии по электронному адресу: valentin.sukharev@rusnano.com и оригинал - почтой в адрес оргкомитета. Обращаем внимание, что количество участников ограничено (не более 2 слушателей от одной организации) и 50% мест предназначаются для слушателей в возрасте не старше 35 лет. Приоритетами для отбора слушателей будут: участие в измерениях параметров наноматериалов, ранняя регистрация, участие лаборатории (центра) в системе добровольной сертификации <Наносертифика>. Организационный взнос для слушателей, отобранных организационным комитетом, составляет 3000 руб., который включает расходы на организацию школы, проживание в гостинице, питание. Официальное приглашение и реквизиты для перевода оргвзноса будут направлены до 15.04.2009 по электронной почте.
Адрес оргкомитета для корреспонденции
117420, г. Москва, ул. Наметкина, 12 А Государственная корпорация <Российская корпорация нанотехнологий> Сухарев Валентин Сергеевич Тел.: +7 495 542-44-44 Факс: +7 495 542-44-34 E-mail: valentin.sukharev@rusnano.com
