Уважаемые коллеги!
Государственная корпорация <Российская корпорация нанотехнологий>, Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии и Научный совет РАН по электронной микроскопии в период 28- 30 мая 2008 г. в г.Черноголовке проведут 2-ую школу <Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур>.
Целью школы является повышение квалификации специалистов центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий, в том числе участников системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии <НАНОСЕРТИФИКА>, в области проведения и метрологического обеспечения 
испытаний продукции наноиндустрии. Основное внимание будет уделено измерениям пространственных характеристик наноматериалов и наноструктур.
Тематика школы:
· Использование различных методов электронной микроскопии для получения и 
анализа изображений образцов наноразмерных и наноструктурных о ... Читать дальше »