Главная » 2009»Март»17 » семинар, посвященный презентации оборудования фирм IonToF и Kratos
семинар, посвященный презентации оборудования фирм IonToF и Kratos
00:56
Уважаемые коллеги!
Приглашаю Вас и Ваших коллег посетить семинар, посвященный презентации оборудования фирм IonToF и Kratos. Семинар состоится 17 марта 2009 года, во вторник. Начало в 10:00 адрес: ИФТТ РАН, Черноголовка, Мос.обл., Институтская ул. д.2, 142432, Россия
10-30 IonTOF - Времяпролетная вторично-ионная масспектрометрия. Введение (Derk Rading) Kratos Analytical - Введение в Электронную Спектроскопию для Химического Анализа (ESCA) Поверхностей (Adam Roberts)
12-15 - 12-30 перерыв 12-30 - 14-15 IonTOF - TOF.SIMS 5 и Qtac; Презентация приборов.(Colin Helliwell) Kratos Analytical - Семейство спектрометров AXIS от фирмы Kratos Analytical. Обзор лидирующих на рынке технологий. (Adam Roberts)
14-15 - 15-30 обед, экскурсия на прибор TOF.SIMS.5
15-30 - 16-30 Kratos Analytical - Совместное использование различных методов анализа поверхностей. От биологических образцов до кремниевой промышленности. (Adam Roberts)
16-30 - 16-45 перерыв 16-45 - 17-45 IonTOF - Применения TOF-SIMS; От полупроводников до биологических объектов. (Derk Rading)
