Уважаемые коллеги!

Приглашаю Вас и Ваших коллег посетить семинар, посвященный презентации оборудования фирм IonToF и Kratos.
Семинар состоится 17 марта 2009 года, во вторник. Начало в 10:00
адрес: ИФТТ РАН, Черноголовка, Мос.обл., Институтская ул. д.2, 142432, Россия

1. TOF SIMS 
Времяпролетная масспектрометрия
2. LEIS
Рассеяние медленных ионов
3. XPS
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
4. Auger
Оже спектроскопия
5. UPS
Ультрафиолетовая спектроскопия 



Программа семинара:

10-30 
  IonTOF - Времяпролетная вторично-ионная масспектрометрия. Введение (Derk Rading)
  Kratos Analytical - Введение в Электронную Спектроскопию для Химического Анализа (ESCA) Поверхностей (Adam Roberts)

12-15 - 12-30 перерыв
12-30 - 14-15
  IonTOF - TOF.SIMS 5 и Qtac; Презентация приборов.(Colin Helliwell)
  Kratos Analytical - Семейство спектрометров AXIS от фирмы Kratos Analytical. Обзор лидирующих на рынке техноло ... Читать дальше »